织木原创俱乐部

2025-03-14

真空型矿产元素分析仪具有超高的灵敏度和重现性，能够分析从硫到铀的广泛元素范围，并覆盖1ppm至99.99%的广泛含量。其操作简便，界面友好，适用于各种矿产资源的快速分析和评估，为地质勘探、矿产开发等领域提供强有力的技术支持。真空型矿产元素分析仪在使用过程中可能会出现故障，了解并正...

2024
9-30

断源与断代是古陶瓷科学技术研究中的两个重要方面，其中必定要使用到对古陶瓷标本的化学组成以及记录其年代信息的载体进行测定的科学方法。测定古陶瓷标本与各地制陶原料的化学组成可以确定古陶瓷的产地，并可在一定程度上帮助判断古陶瓷的烧造年代；而通过检测保留在古陶瓷内部的记录其年代信息的各种载体，则可以较准确的进行断代。作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新款EDX9900plus配置了基于Windows基本参数算法的FP（Fundamentalparamet...
2024
8-2

岩石分析仪提供了哪些软件功能无论客户的样品是是固体，合金，粉末，液体或者浆液，EDX9000B都可以轻松实现从钠（Na）到铀（U）元素的无损定性和定量分析。更快的分析速度，更精确的测试结果，更稳定的仪器性能。岩石分析仪应用：塑胶及有机物：塑料材料PE，PVC，添加剂等元素分析石油化工：燃料，润滑油监测，添加剂，磨损金属等中的硫元素分析环境：废水，空气污染，土壤和地面，排放控制等涂层厚度和薄膜：分析多层涂层，钢涂层，杂质等食品，化妆品和药品：添加剂控制，原材料，有害金属，包装材料等界面清晰易用。选择方法并...
2024
7-25

哪些因素会影响测金仪的试验结果测金仪的检测对象：黄金、铂金、钯金、K金、K白金，合金，电镀液等。应用行业：贵金属及合金的成分分析。黄金K值快速鉴定（4k-24K）。千足金万足金快速区分。黄金珠宝，钟表和硬币的真伪测试。牙科合金分析。镀层厚度分析。电镀液金属元素含量分析。测金仪的优势：1.微光斑（1mm，0.5mm），1mm样品检测面积。利用我们的集成摄像头和小点功能，来捕获图像并专注于小区域检测。2.垂直光路设计，提高复杂样品检测精度。3.多准直器可选（0.5mm，1mm，2mm）。4.FP（基本参数法）...
2024
6-24

X荧光测硫仪测量时要注意样品台板的位置 X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。其原理是用X光激发源照射待分析的油样，样品中硫元素的内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会放射出硫元素的特征X光。检测器(Detector)接受这些硫元素的特征X光信号，仪器软件系统将其转为对应的测试强度。用标准物质样品建立特征X射线强度与硫含量之间的关系，也就是标定曲线。在建立了硫元素不同含量范围的标定曲线...
2024
5-24

XRF土壤分析仪无需每日校准即可获得高精度结果土壤作为人类赖以生存的关键资源，在人类的生产生活中占据着至关重要的位置。土壤无机污染物中以重金属比较突出，主要是由于重金属不能为土壤微生物所分解，而易于积累。甚至有的通过食物链在人体内蓄积，严重危害人体健康。便携式XRF土壤分析仪实现了快速、准确分析土壤中的有害金属元素Pb（铅），As（砷），Cd（镉），Hg（汞），Cu（铜），Ni（镍），Zn（锌），Cr（铬）等，能够实时现场对厂区、矿区、重工业区周边的环境进行监测，从而进行控制排放和污染治理。操作人员可以直接用Compas...
2024
4-25

EDX8800M MAX能量色散荧光光谱仪不同的应用案例作为一款立式X射线荧光（EDXRF）材料分析仪，EDX8800MMAX配置了高功率X射线激发系统，同时搭配了高计数率和高分辨率的FSDD探测器，它提供了出色的线性动态范围，可在金属、水泥、矿物、采矿、玻璃和陶瓷中实现更高精度的过程和质量控制。ESI英飞思EDX8800MMAX光谱仪主要应用于在第三方实验室及各种需要进行高精度材料成分分析的场所。应用方向：RoHS筛选测试，有害金属快速筛查。石油化工：燃料，润滑油监测，添加剂，磨损金属等中的硫元素分析。环境：废水，空气污染，土壤...
2024
4-22

X荧光镀层测厚仪出现故障后及时解决非常重要 X荧光镀层测厚仪具有测量精度高、稳定性好、操作简便等优点，广泛应用于金属加工、电子、环境监测及质检等行业。它不仅能快速准确地确定涂层厚度，还能分析元素的成分和化学状态，为产品质量控制和科学研究提供有力支持。在长期使用过程中，X荧光镀层测厚仪可能会遇到一些故障。这些故障不仅会影响测量精度，还可能影响工作效率。因此，了解这些故障及其相应的解决方法至关重要。1、测量数据不准确。这可能是由于仪器校准不当或传感器老化导致的。针对这类故障，我们可以首先尝试重新校准仪器，确保校准参数正确无...

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